透射密度计TBX2000

The TBX1000™ 透射密度计测量ISO视觉漫反射光学密度 (OD) 至6.60D. 较宽的测量范围允许对多种类型的材质如薄膜,层压板和基板进行评估.该设备带有一个2.00D的校准标准但有一个可选的校准标准值需要购买。TBX1500还可以测量正点和负点区域;TBX2000测量不透明度百分比和透射度。数据可以通过USB端口(配件需另外采购)上传电子表格。TBX™可以显示所有函数的存储参考值的偏差。



特点:

软键菜单操作
先进的光学系统,满足各行业的规格要求
7.5 英寸平台,可测量大样本
读数可重复高
可选带通滤波器
USB 端口标准
软件校准
可切换 LED 灯

非常适合测量金属薄膜的光学密度。


规格:

光学设计……………………………………………………………….............ANSI PH2.19

显示…………………………………………………………………………………..LCD屏幕(128x64像素)

光圈…………………………………………………………………………………..1,2,3毫米

杆长……………………………………………………………………………………7.5英寸

输出接口……………………………………………………………………………USB

电源输入……………………………………………………………………………12V输入110/220适配器

测量范围……………………………………………………………………………0-6.00D

准确度……………………………………………………………………………….0.02D

精度……………………………………………………………………………………0.01D

预热时间…………………………………………………………………………….无

 

 

选项:

型号

PART#

功能

TBX1000

FD343-10(USA);FF343-10 (Intl.)

密度;密度差

TBX1500

FD343-15 (USA); FF343-15 (Intl.)

密度;密度差;正负点距离

TBX2000

FD343-20 (USA); FF343-20 (Intl.)

密度;密度差;%密度;%透明度




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